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判斷題
一般來說，被試設(shè)備的體積電容愈大，或局部集中缺陷的范圍愈小，總體tanδ的數(shù)值增加也就愈小，對(duì)缺陷的反映愈不靈敏。
答案：
錯(cuò)誤
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