A、單位時(shí)間的射線強(qiáng)度
B、與強(qiáng)度成反比,而與時(shí)間成正比的量
C、射線輻照強(qiáng)度與時(shí)間的乘積
D、隨時(shí)間按指數(shù)變化的與強(qiáng)度成反比的量
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、對(duì)膠片必須經(jīng)過嚴(yán)格處理
B、必須提高底片的清晰度
C、降低了圖像分辨能力
D、需配制特殊的顯影劑
A、被檢件的材質(zhì)
B、X射線機(jī)的電壓范圍
C、被檢件的厚度
D、以上都是
A、幾何不清晰度
B、散射
C、底片對(duì)比度
D、工件對(duì)比度
A、其影像放大得越大,而其幾何不清晰度變大
B、其影像放大得越小,而其幾何不清晰度變大
C、其影像放大得越大,而其幾何不清晰度變小
D、其影像放大得越小,而其幾何不清晰度變小
A、增大焦距
B、減少焦距
C、選用較高能量
D、選用較低能量
最新試題
在射線照相時(shí),像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在()
水浸式垂直探傷鋼板時(shí),超聲波進(jìn)入工件內(nèi)傳播的有()
下列關(guān)于IIW試塊的說法,正確的是()
關(guān)于聲波的指向性和指向角,正確的是()
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用()
射線經(jīng)過一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
焊縫斜探頭探傷時(shí)儀器示波屏?xí)r間軸按1:1調(diào)整后,其始波前沿()
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是()
與直探頭相比,雙晶探頭()