A、顯影程度
B、使用鉛增感屏
C、射線(xiàn)穿透力
D、使用熒光增感屏
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你可能感興趣的試題
A、粗粒膠片改為微粒膠片
B、底片黑度從1.5增大到3.0;
C、影像寬度從0.2mm增大到0.3mm
D、底片透射光的亮度從30cd/m2增大到100cd/m2
A、12.5
B、74
C、26
D、37.5
A、25
B、70
C、41
D、30
A、當(dāng)缺陷尺寸小于射源尺寸時(shí),才需要引入σ對(duì)底片對(duì)比度進(jìn)行修正
B、σ值越小,幾何條件對(duì)底片對(duì)比度的影響越大
C、為提高σ值而改變透照布置,常用的方法是增大焦距
D、為提高底片對(duì)比度,應(yīng)盡量采用σ>1的透照布置
A、射源尺寸
B、射源到缺陷的距離
C、缺陷到膠片的距離
D、缺陷相對(duì)于射源和膠片的位置和方向
最新試題
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
射線(xiàn)照像底片上產(chǎn)生黑色樹(shù)枝狀花紋的原因是()
在探傷靈敏度確定后,缺陷的當(dāng)量大?。ǎ?/p>
關(guān)于近場(chǎng)長(zhǎng)度的說(shuō)法,正確的是()
關(guān)于聲波的指向性和指向角,正確的是()
在射線(xiàn)照相時(shí),像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在()
與直探頭相比,雙晶探頭()
半價(jià)層厚度與()相關(guān)。
一般來(lái)說(shuō),對(duì)薄工件焊縫的超聲波探傷選用大折射角探頭可以()
關(guān)于圓晶片輻射的超聲波,下列說(shuō)法正確的是()(S為傳播距離,N為近場(chǎng)長(zhǎng)度)。