A.產(chǎn)生光電子
B.發(fā)射標(biāo)識(shí)X射線(xiàn)
C.發(fā)射二次電子
D.以上都是
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A.產(chǎn)生光電子
B.產(chǎn)生俄歇電子
C.產(chǎn)生反沖電子
D.產(chǎn)生正負(fù)電子對(duì)
A.康普頓散射
B.光電效應(yīng).
C.電子對(duì)效應(yīng)
D.電離
A.光電效應(yīng)和電子對(duì)效應(yīng)
B.光電效應(yīng)和康普頓散射
C.康普頓散射和電子對(duì)效應(yīng)
D.康普頓散射和電離
A.最大能量為0.2MeV
B.平均能量為0.2MeV
C.“白色”X射線(xiàn)
D.連續(xù)射線(xiàn)
A.光電效應(yīng)
B.康普頓散射
C.吸收
D.半價(jià)層厚度
最新試題
合格的底片應(yīng)至少滿(mǎn)足以下哪些質(zhì)量要求（）
X射線(xiàn)管焦點(diǎn)有效面積取決于（）
對(duì)于螺栓的檢測(cè)，不適用的無(wú)損檢測(cè)方法是（）
在試件外緣由射線(xiàn)散射引起射線(xiàn)照相圖像質(zhì)量變差的現(xiàn)象叫（）
核力與下列哪種因素?zé)o關(guān)（）
對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類(lèi)內(nèi)部缺陷，適用的無(wú)損檢測(cè)方法是（）
下列有關(guān)評(píng)片的敘述哪一條是錯(cuò)誤的（）
射線(xiàn)檢測(cè)存在一定的局限性，下面哪種說(shuō)法是錯(cuò)誤的（）
RT檢測(cè)中，控制散射線(xiàn)的方法是采用哪種手段（）
為了提高橫向缺陷檢出率，射線(xiàn)照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施（）