單項(xiàng)選擇題檢漏靈敏度和儀器靈敏度（）
A．相同
B．不同，但存在一定的數(shù)學(xué)關(guān)系
C．可以等效
D．不同
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1.單項(xiàng)選擇題環(huán)境溫度不同，氣體分子熱運(yùn)動(dòng)的平均速度就不同，漏率如何？（）
A．不變
B．微小變化，可忽略不計(jì)
C．變化
D．可以通過(guò)檢測(cè)人員的經(jīng)驗(yàn)控制
2.單項(xiàng)選擇題標(biāo)準(zhǔn)漏率是指在環(huán)境溫度23±7℃，入口壓力為100KPa（±5%），出口壓力低于（）時(shí)的干燥空氣（露點(diǎn)溫度低于-25℃）通過(guò)的漏率。
A．1KPa
B．1MPa
C．1Pa
D．1mPa
3.單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷（04版）第10章“附錄Ⅴ氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)”要求校準(zhǔn)系統(tǒng)靈敏度應(yīng)在試驗(yàn)前和試驗(yàn)后以及試驗(yàn)中間隔不大于（）
A．4h進(jìn)行一次；
B．6h進(jìn)行一次；
C．8h進(jìn)行一次；
D．10h進(jìn)行一次。
4.單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷（04版）第10章“附錄Ⅴ氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——示蹤探頭技術(shù)”要求檢驗(yàn)掃描應(yīng)從探測(cè)系統(tǒng)的：（）
A．最下部開(kāi)始；
B．最上部開(kāi)始；
C．中部開(kāi)始；
D．任意部位開(kāi)始。
5.單項(xiàng)選擇題ASME標(biāo)準(zhǔn)第Ⅴ卷（04版）第10章“附錄Ⅳ氦質(zhì)譜儀試驗(yàn)——探測(cè)器探頭技術(shù)”對(duì)“保壓時(shí)間”規(guī)定為檢驗(yàn)以前，試驗(yàn)壓力應(yīng)至少先保持：（）
A．15min；
B．20min；
C．25min；
D．30min。
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泄漏檢測(cè)設(shè)備靈敏度的提高，反應(yīng)時(shí)間的縮短，試驗(yàn)設(shè)備的成本相應(yīng)（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
氦質(zhì)譜檢漏儀中質(zhì)譜室的用途是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
檢漏工作應(yīng)具備的主要條件是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
吸槍氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)適用于（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
無(wú)損檢測(cè)的最大特點(diǎn)是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)進(jìn)行氦質(zhì)譜儀噴氦法試驗(yàn)時(shí)，探測(cè)的順序是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
放氣的主要來(lái)源（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
真空的定義是什么？
題型：?jiǎn)柎痤}
在氦質(zhì)譜檢漏儀中，燈絲長(zhǎng)時(shí)間處在低真空中將會(huì)（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)既不能充內(nèi)壓也不能抽真空的某些容器或薄部件檢漏，可以采用（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題