A、黑盒測(cè)試技術(shù)中的邊界值分析在很大程度上是試探性的，與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān)
B、黑盒測(cè)試技術(shù)中的劃分等價(jià)類在很大程度上是試探性的，與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān)
C、黑盒測(cè)試技術(shù)中的錯(cuò)誤推測(cè)法在很大程度上是試探性的，與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān)
D、黑盒測(cè)試技術(shù)中的邏輯覆蓋法在很大程度上是試探性的，與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、劃分等價(jià)類屬于黑盒測(cè)試技術(shù)
B、邊界值分析屬于黑盒測(cè)試技術(shù)
C、錯(cuò)誤推測(cè)法屬于黑盒測(cè)試技術(shù)
D、邏輯覆蓋法屬于黑盒測(cè)試技術(shù)
A、所謂系統(tǒng)測(cè)試就是同時(shí)運(yùn)行新開(kāi)發(fā)出來(lái)的系統(tǒng)和將被它取代的舊系統(tǒng)，以便比較新舊兩個(gè)系統(tǒng)的處理結(jié)果
B、所謂模塊測(cè)試就是同時(shí)運(yùn)行新開(kāi)發(fā)出來(lái)的系統(tǒng)和將被它取代的舊系統(tǒng)，以便比較新舊兩個(gè)系統(tǒng)的處理結(jié)果
C、所謂驗(yàn)收測(cè)試就是同時(shí)運(yùn)行新開(kāi)發(fā)出來(lái)的系統(tǒng)和將被它取代的舊系統(tǒng)，以便比較新舊兩個(gè)系統(tǒng)的處理結(jié)果
D、所謂平行測(cè)試就是同時(shí)運(yùn)行新開(kāi)發(fā)出來(lái)的系統(tǒng)和將被它取代的舊系統(tǒng)，以便比較新舊兩個(gè)系統(tǒng)的處理結(jié)果
A、系統(tǒng)測(cè)試的目的是驗(yàn)證系統(tǒng)確實(shí)能夠滿足用戶的需要
B、模塊測(cè)試的目的是驗(yàn)證系統(tǒng)確實(shí)能夠滿足用戶的需要
C、平行測(cè)試的目的是驗(yàn)證系統(tǒng)確實(shí)能夠滿足用戶的需要
D、驗(yàn)收測(cè)試的目的是驗(yàn)證系統(tǒng)確實(shí)能夠滿足用戶的需要
A、子系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收測(cè)試都兼有檢測(cè)和組裝雙重含義，通常稱為集成測(cè)試
B、子系統(tǒng)測(cè)試和模塊測(cè)試都兼有檢測(cè)和組裝雙重含義，通常稱為集成測(cè)試
C、子系統(tǒng)測(cè)試和平行測(cè)試都兼有檢測(cè)和組裝雙重含義，通常稱為集成測(cè)試
D、子系統(tǒng)測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試都兼有檢測(cè)和組裝雙重含義，通常稱為集成測(cè)試
A、驗(yàn)收測(cè)試著重測(cè)試模塊的接口
B、模塊測(cè)試著重測(cè)試模塊的接口
C、平行測(cè)試著重測(cè)試模塊的接口
D、子系統(tǒng)測(cè)試著重測(cè)試模塊的接口
最新試題
以下哪項(xiàng)不屬于性能測(cè)試的應(yīng)用領(lǐng)域（）
下面對(duì)白盒測(cè)試的目的描述正確的是（）
以下哪項(xiàng)用于觀察系統(tǒng)在一個(gè)給定的環(huán)境和場(chǎng)景中的性能表現(xiàn)是否與預(yù)期目標(biāo)一致（）
下面關(guān)于錯(cuò)誤推測(cè)法說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）
以下哪項(xiàng)測(cè)試是將所有單元組裝成模塊，測(cè)試各部分工作是否達(dá)到相應(yīng)技術(shù)指標(biāo)級(jí)的活動(dòng)（）
若按用戶要求分，軟件測(cè)試可分為（）
下面關(guān)于邊界值測(cè)試說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）
Quest Central for Database數(shù)據(jù)庫(kù)監(jiān)控工具不能管理以下哪種數(shù)據(jù)庫(kù)（）
下面哪項(xiàng)不屬于系統(tǒng)測(cè)試的主要目標(biāo)（）
增殖式集成方式不包括（）