單項(xiàng)選擇題底片黑度公式D=LgLo/L,其中()。
A.lo是入射線強(qiáng)度,L是透射射線強(qiáng)度
B.lo是入射光強(qiáng)度,L是透射光強(qiáng)度
C.lo是透射射線強(qiáng)度,L是入射線強(qiáng)度
D.lo是透射光強(qiáng)度,L是入射光強(qiáng)度
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項(xiàng)選擇題背散射線不影響底片的()。
A.對比度
B.清晰度
C.感光度
D.以上都不是
2.單項(xiàng)選擇題下列技術(shù)中適于檢驗(yàn)厚度很大物體表面層缺陷的是()。
A.中子射線照相
B.射線CT技術(shù)
C.康普頓背散射成像技術(shù)
D.A、B和C
3.單項(xiàng)選擇題下列問題中適于康普頓背散射成像技術(shù)檢驗(yàn)的是()。
A.金屬表面的腐蝕裂紋
B.原子序數(shù)低、厚度小物體的層析射線照相
C.厚度很大物體的表面層內(nèi)部缺陷
D.A、B和C
4.單項(xiàng)選擇題膠片特性曲線上兩個(gè)特定黑度點(diǎn)的()是對比度的平均梯度。
A.距離
B.連線
C.直線斜率
D.以上都不是
5.單項(xiàng)選擇題在選用透照參數(shù)時(shí),曝光量應(yīng)()。
A.不大于曝光曲線推薦的最小值
B.不小于曝光曲線推薦的最小值
C.不小于曝光曲線推薦的最大值
D.以上都不是
最新試題
磁場信號測量中可采用()方法。
題型:多項(xiàng)選擇題
工藝評定試件焊后應(yīng)進(jìn)行()。
題型:多項(xiàng)選擇題
探頭主聲束()將會影響對缺陷的定位和判別。
題型:多項(xiàng)選擇題
對滲透探傷無影響的是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
滲透檢測工藝對顯像操作的要求有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
超聲波檢測發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測,缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
題型:多項(xiàng)選擇題
用雙晶探頭檢測時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測細(xì)長缺陷應(yīng)使探頭()。
題型:多項(xiàng)選擇題
人的眼睛在強(qiáng)光下,()。
題型:多項(xiàng)選擇題
無損檢測設(shè)備、材料采購驗(yàn)收內(nèi)容包括()驗(yàn)收。
題型:多項(xiàng)選擇題
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
題型:多項(xiàng)選擇題