A.固有不清晰度
B.幾何不清晰度
C.本底灰霧度
D.化學(xué)灰霧度
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你可能感興趣的試題
A.射線能量
B.射線強(qiáng)度
C.增感屏粒度
D.A、B和C
A.能量
B.強(qiáng)度
C.指向性
D.工件厚度與焦距的比值
A.影像黑度很低
B.具有成片分布的特點(diǎn)
C.具有平滑的輪廓
D.以上都是
A.由于Br-離子被吸附在AgBr表面，排斥了顯影劑負(fù)離子對(duì)未曝光的AgBr的還原作用
B.由于未曝光的AgBr晶體中含Ag+的質(zhì)點(diǎn)較小，催化作用弱
C.由于顯影溫度、時(shí)間、pH值適當(dāng)
D.A、B和C
A.碳酸鈉
B.無(wú)水碳酸鈉
C.米吐?tīng)?br />
D.溴化鈉
最新試題
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。
冷裂紋常見(jiàn)的有（）。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí)，缺陷定位說(shuō)法正確的有（）。
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開(kāi)口缺陷的固體污染物有（）。
表面波檢測(cè)中，利用表面波檢測(cè)（）效果好。
將彎曲液面對(duì)液體的壓強(qiáng)與平面液面對(duì)液體的壓強(qiáng)相比，任何液面膜對(duì)液體施以附加壓強(qiáng)，下面描述正確的是（）。
滲透檢測(cè)時(shí)，滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi)，將受檢部位置于合適的光源（發(fā)光強(qiáng)度足夠）下檢查時(shí)，下列說(shuō)法正確的有（）。
聚焦聲源發(fā)射的聲場(chǎng)特點(diǎn)是（）。
單晶體金屬特點(diǎn)有（）。
對(duì)滲透探傷無(wú)影響的是（）。