填空題在對(duì)熒光磁粉痕顯示照相時(shí),要用()濾光片濾去()才能照相。
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對(duì)滲透探傷無(wú)影響的是()。
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對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有()。
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單晶體金屬特點(diǎn)有()。
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用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。
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滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
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表面波檢測(cè)中,利用表面波檢測(cè)()效果好。
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采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí),缺陷定位說(shuō)法正確的有()。
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Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
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超聲波探傷儀要盡量避免在()場(chǎng)合使用。
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超聲波檢測(cè)夾渣缺陷反射波特征包括()。
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