A.整流管電流的大小
B.X射線(xiàn)管電流的大小
C.X射線(xiàn)工作時(shí)間的長(zhǎng)短
D.燈絲加熱溫度
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A.焦距
B.電阻
C.電纜長(zhǎng)度
D.以上都不對(duì)
A.調(diào)整燈絲加熱電流
B.調(diào)整靶到陰極的距離
C.陽(yáng)極導(dǎo)線(xiàn)中串聯(lián)電阻
D.打開(kāi)X光窗口快門(mén)
A.焦點(diǎn)尺寸
B.靶到陰極的距離
C.陽(yáng)極冷卻速度
D.以上都是
A.Is/I
B.Is/Ip
C.I/Is
D.Ip/Is
A.設(shè)備額定KV值
B.試件厚度
C.陽(yáng)極冷卻速度
D.焦點(diǎn)尺寸
最新試題
下列關(guān)于照射場(chǎng)的大小對(duì)散射比的影像的說(shuō)法，錯(cuò)誤的有（）。
后乳化型熒光滲透劑本身不含乳化劑，不起乳化作用，需經(jīng)乳化后才能用水清洗，不易被去除，可以用于（）的檢驗(yàn)。
產(chǎn)生干涉的兩列相干波，在振動(dòng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生不同的波程差，波程差與波長(zhǎng)相關(guān)聯(lián)，所以不同的波程差會(huì)出現(xiàn)（）等現(xiàn)象。
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí)，首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查，不滿(mǎn)足要求的底片不予評(píng)定，質(zhì)量檢查項(xiàng)目有（）。
筒形或環(huán)形鍛件的鍛造工藝是先鐓粗，后沖孔，再滾壓。因此，缺陷的取向比軸類(lèi)鍛件和餅類(lèi)鍛件中的缺陷取向復(fù)雜。所以對(duì)這類(lèi)鍛件一般采用（）進(jìn)行檢測(cè)。
下列關(guān)于顯像劑粉末吸附缺陷中滲透劑的說(shuō)法正確的有（）。
滲透檢測(cè)通常在（）前進(jìn)行，表面處理后局部加工時(shí)需再次檢測(cè)。
用半價(jià)層描述的某種能量的射線(xiàn)是指（）。
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有（）。
當(dāng)障礙物尺寸Df< < 波長(zhǎng)λ時(shí)，會(huì)出現(xiàn)以下（）等現(xiàn)象。