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質譜儀中使被分析物質電離成離子的部分。常見的有電子轟擊源EI、化學電離源CI、快原子轟擊源FAB等。

以質譜中基峰（最強峰）的高度為100%，其余峰按與基峰的比例加以表示的峰強度為相對豐度，又稱相對強度

激發(fā)核通過非輻射途徑損失能量而恢復至基態(tài)的過程。

在外加磁場作用下，由化學鍵產生的感應磁場使在分子中所處的空間位置不同的核屏蔽作用不同的現(xiàn)象

核外電子及其他因素對抗外加磁場的現(xiàn)象。