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一般認為表面波探測的有效深度約為（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關系是（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

探頭的分辨力（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關系是（）

超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。

對于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時是不會產生特征X射線的。

使用變型波檢測的一個優(yōu)點是（）

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數，此式代表什么現象（）

調節(jié)掃描速度時，應使（）同時對準相應的水平刻度值。