A.單板輸出光功率檢查
B.站內(nèi)光纖檢查
C.網(wǎng)管監(jiān)控
D.OMU/ODU插損測(cè)試
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.GE
B.STM-16
C.STM-64
D.E1
A.B1
B.B2
C.J0
D.J1
A.主控模塊ECM_N
B.業(yè)務(wù)模塊ECM_S
C.APS控制單元ECM_A
D.管理模塊ECM_M
A.客戶(hù)側(cè)近端
B.客戶(hù)側(cè)遠(yuǎn)端
C.線路側(cè)近端
D.線路側(cè)遠(yuǎn)端
A.DWDM/OTN基本原理
B.系統(tǒng)信號(hào)流
C.維護(hù)基本操作
D.常用儀表操作
![](https://static.ppkao.com/ppmg/img/appqrcode.png)
最新試題
造成光纜線路障礙的原因大致可分為外力因素、()、()、光纜自身缺陷等四大類(lèi)。
余纖收容盤(pán)是整個(gè)接頭盒的核心,其作用是收容(),并固定()。
光纜線路的割接方式分為()和()兩大類(lèi)。
光在光纖中傳輸時(shí)的衰減可用光纖的損耗系數(shù)來(lái)表示,其單位為()。
終端盒成端是將光纜固定在終端盒上,把外線光纜中的光纖與()沒(méi)有連接器的一端相熔接,把余纖收容在終端盒的收容盤(pán)內(nèi)。
OTDR監(jiān)測(cè)光纖熔接損耗的三種主要方式是()、()和()。
光纖的熔接操作一般分為光纖端面的制備、()和()三個(gè)步驟。
光纜接頭盒的種類(lèi)較多,從接續(xù)方式上分為直通接續(xù)接頭盒和()兩種。
光由折射率為n1的光密介質(zhì)射向折射率為n2的光疏介質(zhì)時(shí)(n1>n2),臨界角的正弦值為()。
目前用OTDR測(cè)量單模光纖,最常用的測(cè)試波長(zhǎng)是()。