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下列關(guān)于IIW試塊的說法，正確的是（）

小口徑管道射線探傷時(shí)常采用（）方法透照。

下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場強(qiáng)度的是（）

表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是（）

采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí)，焦距為1m，曝光時(shí)間為6min，其余條件均不變，曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為（）

與直探頭相比，雙晶探頭（）

檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用（）

鐵磁材料達(dá)到居里點(diǎn)時(shí)，會(huì)發(fā)生什么現(xiàn)象（）

射線照像底片產(chǎn)生黃色灰霧，其原因是（）

射線經(jīng)過一個(gè)半價(jià)層后，其（）衰減一半。