當(dāng)塊內(nèi)的任意比特發(fā)生錯(cuò)誤時(shí)，就稱該塊是差錯(cuò)塊（ErroredBlock，EB.，也可稱為誤塊。
誤塊秒比（ESR）、嚴(yán)重誤塊秒比（SESR）、背景誤塊比（BBER）和嚴(yán)重誤塊周期強(qiáng)度（SEPI）四個(gè)參數(shù)。
所謂“塊”是通道、段中傳送的一些關(guān)聯(lián)、連續(xù)比特的集合。每個(gè)比特屬于且僅屬于一個(gè)塊。
在一個(gè)固定的測試時(shí)間間隔上的可用時(shí)間內(nèi)，SES與總可用時(shí)間秒數(shù)之比。
在一個(gè)固定的測試時(shí)間間隔上的可用時(shí)間內(nèi)，ES與總可用時(shí)間秒數(shù)之比。
1×10-10設(shè)計(jì)。
最新試題
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