A、tp=1＋rp
B、R=rp2
C、D=1－rp2
D、以上都不對
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A、（Z2－Z1）/（Z1＋Z2）
B、2Z2/（Z1＋Z2）
C、4Z1×Z2/（Z1＋Z2）2
D、[（Z2－Z1）/（Z1＋Z2）]2
A、1/2波長的整數(shù)倍時
B、1/2波長的奇數(shù)倍時
C、1/4波長的奇數(shù)倍時
D、1/4波長的整數(shù)倍時
A、底波被較大的面積性缺陷反射
B、底波被較小的單個球狀缺陷反射
C、底波的能量被轉換為電能而吸收
D、以上都可能
A、3200和3200
B、3200和5900
C、5900和5900
D、以上都不對
A、特性
B、形狀
C、方向
D、以上都不對
最新試題
根據(jù)檢測對象和目的的不同，渦流檢測儀器一般可分為（）、渦流電導儀和渦流測厚儀三種。
缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）
對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
用于測量黑光強度的現(xiàn)代黑光輻射照度計，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。
隨著渦流檢側儀器制造技術的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導率測量（）測量功能的通用型儀器。
渦流檢測中的對比試樣的（）和材質相對被檢測產品必須具有代表性。
當波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時，移動探頭使波束中心（），回波高度當隨之下降。
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置用于形狀規(guī)則產品的（）
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
當缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）