A、(Z1Z3)1/2
B、Z1Z3
C、Z1/Z3
D、Z3/Z1
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A、r/D<86%時(shí),用K=1的探頭
B、r/D≤96%時(shí),用K=2的探頭
C、r/D≤97.5%時(shí),用K=2.5的探頭
D、以上都對
A、CL:CS:CR≈1.8:2.0:1
B、CL:CS:CR≈1:1:1
C、CL:CS:CR≈1.8:1.0:0.9
D、CL:CS:CR≈1:2.0:4
A、1/2倍
B、1/4倍
C、2倍
D、4倍
A、第三臨界角
B、第一臨界角
C、第二臨界角
D、半擴(kuò)散角
A、第二臨界角
B、第一臨界角
C、第三臨界角
D、以上都不對
最新試題
根據(jù)檢測對象和目的的不同,渦流檢測儀器一般可分為()、渦流電導(dǎo)儀和渦流測厚儀三種。
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
渦流檢測線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。
用于測量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì),其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測量黑光。
在聲束垂直試件表面時(shí),所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
直接射向缺陷的波就是()
各類渦流檢測儀器的工作原理和()是相同的。
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。