A、采用當(dāng)量試塊比較法測(cè)定的結(jié)果
B、對(duì)大于聲束的缺陷,采用底波對(duì)比而測(cè)得的結(jié)果
C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動(dòng)的距離而測(cè)得的結(jié)果
D、缺陷定量法之一,和AVG曲線的原理相同
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A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉(zhuǎn)換
D、粗晶
A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波
A、結(jié)構(gòu)反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
A、側(cè)壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對(duì)
A、應(yīng)使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應(yīng)在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應(yīng)盡可能寬
最新試題
對(duì)于長(zhǎng)條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
無(wú)損探傷檢測(cè)采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長(zhǎng)范圍為()mm,峰值波長(zhǎng)為365mm。
渦流檢測(cè)線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在()材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
對(duì)于圓盤(pán)形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()
根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和目的的不同,渦流檢測(cè)儀器一般可分為()、渦流電導(dǎo)儀和渦流測(cè)厚儀三種。
渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來(lái)表示缺陷的()
各類渦流檢測(cè)儀器的()和結(jié)構(gòu)各不相同。