單項(xiàng)選擇題曝光過程中,與X射線膠片緊密接觸的鉛增感屏可提高底片黑度,其原因是()。
A、鉛增感屏?xí)a(chǎn)生可見光和熒光
B、鉛屏可吸收散射線
C、防止背散射造成膠片灰霧
D、鉛屏受X射線和γ射線照射會(huì)發(fā)生二次電子
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1.單項(xiàng)選擇題鉛增感屏鉛箔局部剝落,底片上表現(xiàn)為()。
A、較黑斑塊顯示
B、較白斑塊顯示
C、無顯示
D、以上任何一種
2.單項(xiàng)選擇題大晶粒金屬零件進(jìn)行射線照相時(shí),利用提高管電壓和使用鉛增感屏可以()。
A、增大衍射斑的影響
B、減少或消除衍射斑的影響
C、增大焦距的影響
D、以上任何一種
3.單項(xiàng)選擇題膠片特性曲線斜率可判別膠片的下列特性()。
A、感光度
B、梯度
C、灰霧度
D、以上都對(duì)
4.單項(xiàng)選擇題X射線底片清晰度不好,可能是由于()。
A、采用非增感型膠片、鉛增感組合
B、采用低管壓、高電流照相
C、采用增感型膠片與熒光增感屏組合
D、射線管焦點(diǎn)小
5.單項(xiàng)選擇題連續(xù)寬束X射線透照試件,試件的厚度越大,則散射比越大,平均衰減系數(shù)()。
A、越小
B、越大
C、無變化
D、以上全對(duì)
最新試題
渦流檢測(cè)線圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測(cè)量方法。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
直接射向缺陷的波就是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
掃查方式一般視試件的()而定。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題