A.傳播的路程相等，走過的光程相等
B.傳播的路程相等，走過的光程不相等
C.傳播的路程不相等，走過的光程相等
D.傳播的路程不相等，走過的光程不相等
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A.1.33
B.
C.
D.1.5
A.在入射面內(nèi)振動(dòng)的完全偏振光
B.平行于入射面的振動(dòng)占優(yōu)勢的部分偏振光
C.垂直于入射面振動(dòng)的完全偏振光
D.垂直于入射面的振動(dòng)占優(yōu)勢的部分偏振光
A.1/2
B.1/5
C.1/3
D.2/3
A.0.0058cm
B.0.0116cm
C.25cm
D.2.63cm
A.寬度變小
B.寬度變大
C.寬度不變，且中心強(qiáng)度也不變
D.寬度不變，但中心強(qiáng)度增大
最新試題
波長為λ的單色平行光垂直入射到薄膜上，已知n1>n3，如圖所示。則從薄膜上、下兩表面反射的光束①與②的光程差是：（）
用一臺(tái)顯微鏡來觀察細(xì)微物體時(shí)，應(yīng)作出下列哪種選擇？（）
波長為λ的X射線，投射到晶體常數(shù)為d的晶體上，取k=0，2，3，…，出現(xiàn)X射線衍射加強(qiáng)的衍射角θ（衍射的X射線與晶面的夾角）滿足的公式為：（）
在雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中，若用透明的云母片遮住上面的一條縫，則干涉圖樣如何變化？（）
在單縫夫瑯和費(fèi)衍射實(shí)驗(yàn)中，若增大縫寬，其他條件不變，則中央明條紋的變化是：（）
用劈尖干涉法可檢測工件表面缺陷，當(dāng)波長為λ的單色平行光垂直入射時(shí)，若觀察到的干涉條紋如圖所示，每一條紋彎曲部分的頂點(diǎn)恰好與其左邊條紋的直線部分的連線相切，則工件表面與條紋彎曲處對應(yīng)的部分應(yīng)：（）
用波長為λ的單色光垂直照射到空氣劈尖上，從反射光中觀察干涉條紋，距頂點(diǎn)為L處是暗條紋。使劈尖角θ連續(xù)變大，直到該點(diǎn)處再次出現(xiàn)暗條紋為止（見圖）。則劈尖角的改變量△θ是：（）
在雙縫裝置實(shí)驗(yàn)中，對于給定的入射單色光，當(dāng)雙縫間距增大時(shí)，則屏幕上干涉條紋的變化情況是：（）
一單色平行光束垂直照射在寬度為1.0mm的單縫上，在縫后放一焦距為2.0m的會(huì)聚透鏡。已知位于透鏡焦平面處屏幕上的中央明條紋寬度為2.0mm，則入射光波長約為：（）
用白光光源進(jìn)行雙縫干涉實(shí)驗(yàn)，若用一個(gè)純紅色的濾光片遮蓋住一條縫，用一個(gè)純藍(lán)色的濾光片遮蓋住另一條縫，則將發(fā)生何種干涉條紋現(xiàn)象？（）