A.測(cè)試規(guī)劃
B.測(cè)試計(jì)劃
C.預(yù)期輸出結(jié)果
D.以往測(cè)試記錄分析
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A.自頂向下的
B.自底向上的
C.雙向的
D.反向的
A.被測(cè)模塊
B.上層模塊
C.樁模塊
D.等價(jià)模塊
A.課題負(fù)責(zé)人
B.編程者本人
C.專業(yè)測(cè)試人員
D.用戶
A.邏輯覆蓋
B.因果圖
C.等價(jià)類劃分
D.邊值分析
A.設(shè)計(jì)
B.編程
C.測(cè)試
D.維護(hù)
最新試題
什么是黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試?
空白(1)處應(yīng)選擇()
空白(2)處應(yīng)選擇()
軟件測(cè)試的目的是(),通??煞譃榘缀袦y(cè)試和黑盒測(cè)試。白盒測(cè)試是根據(jù)程序的()來設(shè)計(jì)測(cè)試用例,黑盒測(cè)試是根據(jù)軟件的規(guī)格說明來設(shè)計(jì)測(cè)試用例。常用的黑盒測(cè)試方法邊值分析、等價(jià)類劃分、錯(cuò)誤猜測(cè)、因果圖等。軟件測(cè)試的步驟主要有單元測(cè)試、集成測(cè)試和確認(rèn)測(cè)試。如果一個(gè)軟件作為產(chǎn)品被許多客戶使用的話,在確認(rèn)測(cè)試的時(shí)候通常要通過α測(cè)試和β測(cè)試的過程。其中α測(cè)試是()進(jìn)行的一種測(cè)試。
內(nèi)聚是指一個(gè)模塊內(nèi)各個(gè)元素彼此結(jié)合的(),它是()和局部化概念的自然擴(kuò)展,設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)該力求高內(nèi)聚度。內(nèi)聚度按其高低程度可分為()級(jí)
空白(4)處應(yīng)選擇()
近30年來形成了軟件開發(fā)的多種模式,大致可歸納為3種方法:結(jié)構(gòu)化聲明周期法、原型化方法和()。
空白(6)處應(yīng)選擇()
空白(1)處應(yīng)選擇()
空白(5)處應(yīng)選擇()