A.標(biāo)識(shí)X射線
B.工業(yè)探傷γ源產(chǎn)生的射線
C.用來產(chǎn)生高對(duì)比度的窄束射線
D.由單一波長(zhǎng)的電磁波組成的射線
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A.質(zhì)量數(shù)相同而中子數(shù)不同的元素
B.質(zhì)量數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素
C.中子數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素
D.質(zhì)子數(shù)相同而質(zhì)量數(shù)不同的元素
A.質(zhì)子、電子、光子
B.質(zhì)子、重子、電子
C.光子、電子、X射線
D.質(zhì)子、中子、電子
A.標(biāo)識(shí)X射線
C.用來產(chǎn)生高對(duì)比度的窄束射線
B.工業(yè)探傷γ源產(chǎn)生的射線
D.由單一波長(zhǎng)的電磁波組成的射線
A.質(zhì)量數(shù)相同而中子數(shù)不同的元素;
B.質(zhì)量數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素;
C.中子數(shù)相同而質(zhì)子數(shù)不同的元素;
D.質(zhì)子數(shù)相同而質(zhì)量數(shù)不同的元素。
A.電荷
B.質(zhì)量
C.自旋
D.半衰期
最新試題
在試件外緣由射線散射引起射線照相圖像質(zhì)量變差的現(xiàn)象叫()
同位素的含義是()
下列有關(guān)評(píng)片的敘述哪一條是錯(cuò)誤的()
射線照相法適宜檢測(cè)的材料是()
射線檢測(cè)存在一定的局限性,下面哪種說法是錯(cuò)誤的()
下列與底片上缺陷觀察有關(guān)的因素是()
在射線照相檢測(cè)中,當(dāng)提高射線能量時(shí)可能發(fā)生的是()
有關(guān)射線膠片特性的敘述,正確的是()
A型脈沖超聲波檢測(cè)存在的主要問題是()
射線檢測(cè)裂紋和其與裂紋的角度的關(guān)系是()