A.聲波
B.密度
C.中子
D.介電孔隙度
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A.指數(shù)關(guān)系
B.成正比
C.成反比
D.無(wú)關(guān)
A.越低
B.越高
C.不變
D.恒定
A.降低
B.增大
C.穩(wěn)定
D.恒定
A.地層電阻率
B.井內(nèi)泥漿
C.地層放射性
D.地層的礦化度
A.小
B.大
C.比較一致
D.變化不明顯
最新試題
微電阻率電成像反映地層特征（裂縫、溶洞、層界面等）清晰，與聲成像具有（）。
在薄互層中，泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層（）。
在（）的概念中，沉積環(huán)境和沉積巖特征的辯證關(guān)系是：沉積環(huán)境是形成沉積巖特征的決定因素，沉積巖特征則是沉積環(huán)境的物質(zhì)表現(xiàn)。
多極子陣列聲波測(cè)井首波波至?xí)r間曲線(xiàn)變化形態(tài)應(yīng)（）。
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí)，孔隙度曲線(xiàn)重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于（）。
當(dāng)偶極子聲源在井內(nèi)振動(dòng)時(shí)，井壁附近產(chǎn)生撓曲波，它是一種（）。
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí)，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線(xiàn)總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。
超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、（）、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。
VSP 測(cè)井是一種高分辨率的（）勘探技術(shù)。