A.結(jié)構(gòu)復(fù)雜,不易出故障
B.結(jié)構(gòu)復(fù)雜,容易出故障
C.結(jié)構(gòu)復(fù)雜,不易出故障,無須定期檢測
D.結(jié)構(gòu)簡單,易于出故障,需定期檢測
E.結(jié)構(gòu)簡單,不易出故障
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A.X(γ)射線與物質(zhì)相互作用中,單位長度的能量損失份額
B.X(γ)射線與物質(zhì)相互作用中,單位質(zhì)量厚度的能量損失
C.X(γ)射線與物質(zhì)相互作用中,單位質(zhì)量厚度被物質(zhì)吸收的能量份額
D.X(γ)射線與物質(zhì)相互作用中,單位長度被物質(zhì)吸收的能量份額
E.帶電粒子與物質(zhì)相互作用中,單位質(zhì)量被物質(zhì)吸收的能量份額
A.200KV X射線
B.400KV X射線
C.6MV X射線
D.10MV X射線
E.電子線
A.線性碰撞阻止本領(lǐng)
B.質(zhì)量碰撞阻止本領(lǐng)
C.線性輻射阻止本領(lǐng)
D.質(zhì)量輻射阻止本領(lǐng)
E.傳能線密度
A.電子
B.質(zhì)子
C.α粒子
D.重離子
E.X(γ)光子
A.4.78MeV
B.4.60MeV
C.4.78MeV和4.60MeV
D.0.18MeV
E.9.38MeV
最新試題
隨能量增大,光電效應(yīng)發(fā)生的概率迅速減小。
帶電粒子與物質(zhì)的一次相互作用可以損失其能量的全部或很大一部分。
百分深度劑量受照射野面積的影響。
光電效應(yīng)時(shí)入射X(γ)光子的能量一部分轉(zhuǎn)化為次級電子動(dòng)能,另一部分為特征X 射線能量。
射野中心軸上百分深度劑量值的大小直接反應(yīng)了射線質(zhì)(能量)的高低。
巴黎系統(tǒng)規(guī)定臨床靶區(qū)的厚度T大于1.2cm 時(shí),應(yīng)采用雙平面插植。
檢查燈光野與射野的一致性通常用膠片法。
對加速器射野的對稱性和平坦度的檢查應(yīng)每月兩次。
電離室型劑量儀在每次測量前必需對氣溫和氣壓進(jìn)行修正。
準(zhǔn)直器所產(chǎn)生的散射線對劑量的貢獻(xiàn)主要源于二級準(zhǔn)直器。