最新試題
縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波,又有橫波,因此可同時用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。
所謂“幻影回波”,是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。
工件比較粗糙時,為防止探頭磨損和保護(hù)晶片,宜選用硬保護(hù)膜。
雙晶直探頭傾角越大,交點離探測面距離愈遠(yuǎn),覆蓋區(qū)愈大。
曲面工件探傷時,探傷面曲率半徑愈大,耦合效果愈好。