最新試題
軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。
雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。
穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。
檢測(cè)面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測(cè)技術(shù)綜合考慮。
利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。
