宁国都颈装饰工程有限公司

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。

軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

檢測面準備的目的是為了保證良好的聲耦合。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。