A.1MHz探頭
B.5MHz探頭
C.15MHz探頭
D.25MHz探頭
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A.縱波法
B.橫波法
C.多次回波法
D.分層探傷法
A.超聲探傷儀主要技術(shù)
B.輪軸探傷
C.數(shù)字信號(hào)
D.超聲波探傷
A.單
B.雙
C.四
D.五
A.待鑒定
B.待復(fù)驗(yàn)
C.有缺陷
D.存在裂紋
A.聲阻抗相同
B.同批次
C.相同
D.聲速相同
最新試題
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）
影響較大的散射線通常來(lái)自（）
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái)，最主要的是決定于（）
以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān)，觀片燈亮度改變，最佳黑度值也將改變。
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）
對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。