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單項(xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)中,選用晶片尺寸大的探頭優(yōu)點(diǎn)是（）。
A. 曲面檢測(cè)時(shí)可減少耦合損失
B. 可減少材質(zhì)衰減損失
C. 輻射聲能大
D. 聲束能量
