A.缺陷反射面大小 B.缺陷性質(zhì) C.缺陷取向 D.以上全部
A. K 值是不穩(wěn)定的數(shù)據(jù) B. K 值隨電壓的變化而變化 C. K 值常因磨損而發(fā)生變化 D.以上都對
A.探頭磨損會使入射點(diǎn)發(fā)生變化 B. 探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的增大或減小 C. 探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線性的變化 D. 探頭磨損可能導(dǎo)致掃描速度的變化