A.數(shù)字化樣本的間隔是0.01μs，樣本數(shù)量為2000個
B.數(shù)字化樣本的間隔是0.02μs，樣本數(shù)量為1000個
C.數(shù)字化樣本的間隔是0.04μs，樣本數(shù)量為800個
D.數(shù)字化樣本的間隔是0.05μs，樣本數(shù)量為500個
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A.信號非常弱或探頭距離記錄系統(tǒng)非常遠時
B.頻率非常高時
C.工件厚度非常大時
D.粗晶材料檢測時
A.0到255
B.0到1023
C.0到4095
D.0到8192
A.5MHz的高通濾波器和20MHz的低通濾波器
B.5MHz的低通濾波器和20MHz的高通濾波器
C.3MHz的高通濾波器和15MHz的低通濾波器
D.3MHz的低通濾波器和15MHzr的高通濾波器
A.超聲信號中所有大于5M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
B.超聲信號中所有大于10M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
C.超聲信號中所有大于20M的高頻分量都可能發(fā)生混疊
D.不可能發(fā)生混疊
A.18MHz
B.20MHz
C.30MHz
D.60MHz
最新試題
對軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進行靈敏度調(diào)整時，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）
一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
一般認為表面波探測的有效深度約為（）
對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。
調(diào)節(jié)掃描速度時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）
物質(zhì)對輻射的吸收是隨什么而變（）
原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點的描述，不正確的一項是（）
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是（）