填空題（）以計產(chǎn)品的件數(shù)或點數(shù)的方法，適于使用以下控制圖進行分析：P chart 不良率控制圖、nP chart 不良數(shù)控制圖、C chart 缺點數(shù)控制圖、U chart 單位缺點數(shù)控制圖。
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做初始能力研究時，Cp大于1.33，這臺機器能力可以接受了。
題型：判斷題
當過程能力不足時，為提高過程能力，應(yīng)進一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。
題型：判斷題
當過程能力較高時，為降低成本，采取方法使之降低。
題型：判斷題
1924年，美國的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運用于生產(chǎn)過程當中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗所分析的過程能力的控制界限比較，而以時間順序表示出來的圖形）。通過對過程變差進行控制，為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
題型：判斷題
Ppk用于批量生產(chǎn)時對過程能力分析，Cpk用于批產(chǎn)前對過程能力的分析。
題型：判斷題