單項選擇題對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
A.最小反射波高
B.最大反射波低
C.最大反射波高
D.最小反射波低
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1.單項選擇題對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
A.長度方向
B.周長方向
C.圓周方向
2.單項選擇題對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進行掃查。
A.周長方向
B.長度方向
C.圓周方向
3.單項選擇題掃查方式一般視試件的()而定。
A.形狀
B.形狀及入射方向
C.入射方向
D.方向
4.單項選擇題當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()
A.理論計算
B.頻率單一
C.消失
D.聲稱
5.單項選擇題當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時,移動探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
A.正交;高;偏離
B.正交;低;偏離
C.交叉;高;偏離
D.正交;高;脫離
最新試題
在遠場區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時,缺陷波高與缺陷面積成()
題型:單項選擇題
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
題型:單項選擇題
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時,如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的()
題型:單項選擇題
直接射向缺陷的波就是()
題型:單項選擇題
特性是指實體所特有的性質(zhì),它反映子實體滿足需要的()
題型:單項選擇題
掃查方式一般視試件的()而定。
題型:單項選擇題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導(dǎo)率測量()測量功能的通用型儀器。
題型:單項選擇題
各類渦流檢測儀器的工作原理和()是相同的。
題型:單項選擇題
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
題型:單項選擇題
各類渦流檢測儀器的()和結(jié)構(gòu)各不相同。
題型:單項選擇題