A.K值是不穩(wěn)定的數(shù)據(jù)
B.K值隨電壓的變化而變化
C.K值常因磨損而發(fā)生變化
D.以上都對(duì)
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A.探頭磨損會(huì)使入射點(diǎn)發(fā)生變化
B.探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的增大
C.探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線(xiàn)性的變化
D.探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的減小
A.前后、左右
B.轉(zhuǎn)角
C.環(huán)繞
D.以上都是
A.有機(jī)玻璃楔塊中
B.從晶片中
C.有機(jī)玻璃與耦合界面上
D.耦合層與鋼板界面上
A.與曲面的凹凸有關(guān)
B.與界面兩側(cè)介質(zhì)的波速有關(guān)
C.與界面兩側(cè)介質(zhì)的波速無(wú)關(guān)
D.A和B
A.大于
B.等于
C.小于
D.以上都不一定對(duì)
最新試題
測(cè)量伸長(zhǎng)用的試樣圓柱或棱柱部分的長(zhǎng)度，包括（）
總的來(lái)看，直接數(shù)字成像系統(tǒng)的特點(diǎn)有（）
X熒光測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)有（）
用X射線(xiàn)熒光光譜儀對(duì)變電站密閉箱體和隔離開(kāi)關(guān)軸銷(xiāo)304不銹鋼光譜分析時(shí)，判斷材質(zhì)是否符合要求應(yīng)重點(diǎn)關(guān)注（）元素。
基建部門(mén)負(fù)責(zé)（）專(zhuān)業(yè)的全過(guò)程技術(shù)監(jiān)督歸口管理工作。
顯微鏡鍍層測(cè)厚法缺點(diǎn)是（）
技術(shù)監(jiān)督工作必須落實(shí)完善的（）機(jī)制。
技術(shù)監(jiān)督辦公室針對(duì)技術(shù)監(jiān)督工作過(guò)程中發(fā)現(xiàn)的具有（）的問(wèn)題及時(shí)發(fā)布技術(shù)監(jiān)督工作預(yù)警單。
各級(jí)物資（分）公司在上級(jí)物資部門(mén)的組織下，開(kāi)展（）階段的技術(shù)監(jiān)督工作。
金具的機(jī)械載荷試驗(yàn)，加載到（），并保持1分鐘，無(wú)永久變形，并在達(dá)到（）金具沒(méi)有破壞，則載荷試驗(yàn)通過(guò)。