A.局部厚度不小于40µm，平均厚度不小于50µm
B.局部厚度不小于45µm，平均厚度不小于50µm
C.局部厚度不小于40µm，平均厚度不小于55µm
D.局部厚度不小于45µm，平均厚度不小于55µm
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A.C2；2；1
B.C3；2；1
C.C2；3；2
D.C3；3；2
A.1個(gè)月
B.3個(gè)月
C.6個(gè)月
D.1年
A.每2年；每1年
B.每1.5年；每1年
C.每1年；每半年
D.每2年；每0.5年
A.72
B.60
C.56
D.80
A.480；720
B.480；1000
C.720；1000
D.24；72
最新試題
顯微鏡鍍層測(cè)厚法缺點(diǎn)是（）
以下關(guān)于射線檢測(cè)特點(diǎn)的敘述，正確的是（）
以下屬于螺栓型耐張線夾型式試驗(yàn)的試驗(yàn)項(xiàng)目有（）
金具的機(jī)械載荷試驗(yàn)，加載到（），并保持1分鐘，無(wú)永久變形，并在達(dá)到（）金具沒(méi)有破壞，則載荷試驗(yàn)通過(guò)。
光譜分析按結(jié)果準(zhǔn)確性可分為（）
隔離開(kāi)關(guān)觸頭、觸指鍍銀層可以采用（）檢測(cè)。
技術(shù)監(jiān)督工作必須落實(shí)完善的（）機(jī)制。
DR檢測(cè)技術(shù)與常規(guī)射線檢測(cè)方法相比，其具有特點(diǎn)是（）
耐張線夾與接續(xù)金具進(jìn)行握力試驗(yàn)時(shí)，試件中金具與金具之間或金具與夾具之間的導(dǎo)線長(zhǎng)度應(yīng)不小于導(dǎo)線外徑的（），且不小于（）。
中國(guó)電科院的主要職責(zé)包括（）