單項(xiàng)選擇題（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
A.K式檢測
B.并列式檢測
C.串列式檢測
D.交叉式檢測
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1.單項(xiàng)選擇題（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
A.單探頭法
B.并列式檢測
C.串列式檢測
D.交叉式檢測
2.單項(xiàng)選擇題單探頭法容易檢出（）。
A.與探測面成某一角度的缺陷
B.與波束軸線垂直的片狀缺陷和立體狀缺陷
C.與探測面相垂直的面狀缺陷
D.與探測面垂直的橫向缺陷
