判斷題曲面工件檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)面曲率半徑越小，耦合效果越好
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底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）
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通常所謂20KV的X射線是指（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）
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使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）
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對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探頭的分辨力（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題