A.質(zhì)子、電子、中子
B.質(zhì)子、電子、γ射線
C.光子、電子、中子
D.原子、質(zhì)子、電子
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A.面積大于聲束截面的當(dāng)量一定大
B.面積小于聲束截面的當(dāng)量反而大
C.當(dāng)量忽大忽小
D.以上都可能
A.回波幅度與底面反射波高度相差不大
B.底面反射完全消失
C.缺陷反射波高于底面回波
D.底波與缺陷波同時(shí)存在
A.F/B相同,缺陷當(dāng)量相同
B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸
C.適于對(duì)尺寸較小的缺陷定量
D.適于對(duì)密集性缺陷的定量
A.能
B.不能
C.有時(shí)能
D.觀察不到表面缺陷波
A.橫波
B.表面波
C.縱波
D.板波
最新試題
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
超聲檢測時(shí)對(duì)工件無腐蝕的耦合劑是()。
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測時(shí),缺陷定位說法正確的有()。
超聲波檢測發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測,缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
無損檢測設(shè)備、材料采購驗(yàn)收內(nèi)容包括()驗(yàn)收。
磁場信號(hào)測量中可采用()方法。
用雙晶探頭檢測時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測細(xì)長缺陷應(yīng)使探頭()。
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說法正確的有()。
滲透檢測工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
冷裂紋常見的有()。