A.光子數(shù)
B.正電荷數(shù)
C.中子數(shù)+電子數(shù)
D.以上都不對(duì)
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A.分子
B.中子
C.電子
D.離子
A.27
B.33
C.60
D.87
A.射線直接曝光
B.采用熒光增感
C.采用鉛箔增感
D.以上都不對(duì)
A.感光速度增高
B.黑度增大
C.灰霧度增大
D.漏光
A.透射式黑度計(jì)
B.反射式黑度計(jì)
C.聚焦旋轉(zhuǎn)式黑度計(jì)
D.以上都不對(duì)
最新試題
常規(guī)的縱波聲場(chǎng)或橫波聲場(chǎng),聲速是以一定的角度擴(kuò)散出去的,所以有()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
表面波檢測(cè)中,利用表面波檢測(cè)()效果好。
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說(shuō)法正確的有()。
化學(xué)反應(yīng)型著色滲透劑的特點(diǎn)是()。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
非熒光磁粉檢測(cè)時(shí),可見(jiàn)光照度不小于1000lx,并應(yīng)避免()。
在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí),鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)()現(xiàn)象。
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說(shuō)法正確的有()。