A.焊接冷裂紋
B.焊接熱裂紋
C.再熱裂紋
D.層間斷裂
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A.測(cè)定X射線管焦點(diǎn)近似尺寸的方法
B.測(cè)定X射線管中心射線束強(qiáng)度的方法
C.測(cè)定X射線管照射場(chǎng)的方法
D.以上都是
A.3倍
B.1/2
C.1/3
D.1/4
A.不能穿透工件
B.底片清晰度增加
C.底片清晰度不良
D.以上都不對(duì)
A.固有不清晰度
B.幾何不清晰度
C.本底灰霧度
D.化學(xué)灰霧度
A.射線能量
B.射線強(qiáng)度
C.增感屏粒度
D.A、B和C
最新試題
在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí),鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)()現(xiàn)象。
阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開(kāi)口缺陷的固體污染物有()。
潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)()。
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
超聲波探傷儀要盡量避免在()場(chǎng)合使用。
常規(guī)的縱波聲場(chǎng)或橫波聲場(chǎng),聲速是以一定的角度擴(kuò)散出去的,所以有()。
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括()驗(yàn)收。
化學(xué)反應(yīng)型著色滲透劑的特點(diǎn)是()。
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說(shuō)法正確的有()。
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。