A.安培
B.安匝
C.瓦特
D.歐姆
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A.膠帶紙可以遮蓋試片刻槽部位
B.試片刻槽面應(yīng)與零部件表面密貼
C.“+”刻槽中應(yīng)有一條刻槽與被探測零部件的中心線平行
D.用膠帶沿試片四周呈“井”字形將試片粘貼牢固、平整
A.3.14倍
B.1.57倍
C.2倍
D.1.41倍
A.干法探傷
B.濕法探傷
C.渦流探傷
D.以上都不對
A.縱向磁場
B.環(huán)形磁場
C.交變磁場
D.螺旋形磁場
A.適應(yīng)各種工件的磁特性
B.適應(yīng)各種磁化電流要求
C.適應(yīng)各種顏色工件表面,以提高對比度
D.適應(yīng)各種工件的磁化規(guī)范
最新試題
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
使用變型波檢測的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
探頭的分辨力()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。