A、正壓電效應
B、逆壓電效應
C、壓電常數(shù)
D、介電常數(shù)
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A、1/2波長的整數(shù)倍時
B、1/2波長的奇數(shù)倍時
C、1/4波長的奇數(shù)倍時
D、1/4波長的整數(shù)倍時
A、tp=1+rp
B、R=rp2
C、D=1-rp2
D、以上都不對
A、(Z2-Z1)/(Z1+Z2)
B、2Z2/(Z1+Z2)
C、4Z1×Z2/(Z1+Z2)2
D、[(Z2-Z1)/(Z1+Z2)]2
A、1/2波長的整數(shù)倍時
B、1/2波長的奇數(shù)倍時
C、1/4波長的奇數(shù)倍時
D、1/4波長的整數(shù)倍時
A、底波被較大的面積性缺陷反射
B、底波被較小的單個球狀缺陷反射
C、底波的能量被轉換為電能而吸收
D、以上都可能
最新試題
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
當缺陷面積大于聲束截面時,如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的()
當波束不再與缺陷相遇,則回波()
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導率、磁導率、邊條效應、提離效應等。
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關信息。
采用以()為橫坐標,以平底孔直徑標注各當量曲線作成實用AVG曲線。
鑄件超聲檢測的特點是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應的可檢缺陷尺寸()
渦流檢測線圈的自感式線圈由()構成。
根據(jù)檢測對象和目的的不同,渦流檢測儀器一般可分為()、渦流電導儀和渦流測厚儀三種。