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缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導率、磁導率、邊條效應、提離效應等。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。

在遠場區(qū)，當缺陷比聲束截面小時，缺陷波高與缺陷面積成（）

用于測量黑光強度的現(xiàn)代黑光輻射照度計，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。

掃查方式一般視試件的（）而定。

鑄件超聲檢測的特點是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射，相應的可檢缺陷尺寸（）

渦流檢測線圈的互感線圈一般由（）構成。

各類渦流檢測儀器的工作原理和（）是相同的。

渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的（）具有較好的代表性，因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。