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A.電阻率數(shù)值受到介電常數(shù)影響,頻率越高,介電常數(shù)影響越大
B.電阻率數(shù)值受到介電常數(shù)影響,頻率越高,介電常數(shù)影響越小
C.電阻率數(shù)值受到介電常數(shù)影響,但與頻率無關(guān)
D.介電常數(shù)不影響電阻率數(shù)值
A.在低阻層,儀器偏心對電阻率數(shù)值影響不大,均能反映地層的電阻率實際值
B.在高阻層,儀器偏心對電阻率數(shù)值影響最大
C.在高阻層,衰減電阻率數(shù)值高于地層實際電阻率數(shù)值
D.在高阻層,相位電阻率數(shù)值高于地層實際電阻率數(shù)值
A.層越薄,圍巖影響越輕
B.圍巖對電阻層的影響低于對電導(dǎo)層的影響
C.圍巖對衰減曲線的影響大于對相位曲線的影響
D.圍巖對400KHz 曲線的影響小于對2MHz 曲線的影響
A.鉆具結(jié)構(gòu)
B.井眼尺寸
C.工具尺寸
D.以上三項都對
A.原始路徑(Original Path )
B.側(cè)鉆1(Sidetrack 1)
C.井名(Well Name)
D.井隊名(Rig)
最新試題
S-MWD PUL121(S-MWD650系統(tǒng)和1200系統(tǒng)限流環(huán)選擇)程序軟件中鉆桿內(nèi)徑參數(shù)的設(shè)置范圍為()。
進行S -MWD 儀器MEP15探管QA 測試,井斜為0°,重力加速度計Gz 軸的偏差值應(yīng)小于()。
配鉆具時,要注意B-LWD 儀器UP 與()之間的螺紋,防止在打緊其他螺紋時松開而使儀器脫落。
HL -MWD 的“鉆速評價時間”指程序以該時間長度計算平均鉆速,范圍是()。
HL-MWD 儀器的()用以完成井深編碼器、鉤載傳感器、遠程數(shù)據(jù)處理器、壓力傳感器等信號的通信、信號的預(yù)處理等工作。
B-LWD 儀器MPR 電阻率的采集時間是()。
井口測試B-LWD 儀器,下面()數(shù)據(jù)不受套管干擾。
S -MWD1200系統(tǒng)的標準計算值(STAND OFF)與()緊密相關(guān)。
B-LWD 儀器在對地質(zhì)參數(shù)曲線進行濾波時,可以通過()方式直接在曲線上濾掉異常點。
當B-LWD 儀器和地層走向夾角大于70°時,電阻率曲線會出現(xiàn)一個(),從而判斷地層改變。