A.增大增大
B.減小減小
C.增大減小
D.減小增大
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A.熱電偶
B.熱敏電阻
C.熱電阻
D.光敏電阻
A.熱端溫度
B.冷端溫度
C.A+B
D.A-B
A.熱電勢(shì)隨溫度升高而升高
B.熱電勢(shì)隨溫度升高而降低
C.熱電阻隨溫度升高而升高
D.熱電阻隨溫度升高而降低
A.誤報(bào)警
B.報(bào)警正在延時(shí)
C.改點(diǎn)指示燈故障
D.短時(shí)故障報(bào)警
A.故障自動(dòng)修復(fù)
B.3分鐘失職報(bào)警
C.延時(shí)報(bào)警
D.閉鎖報(bào)警
最新試題
在頻率法校正中，串聯(lián)滯后校正的實(shí)質(zhì)是利用校正裝置的（）。
二次振蕩環(huán)節(jié)中包含（）個(gè)獨(dú)立儲(chǔ)能元件。
對(duì)于最小相位系統(tǒng)G（s）H（s），當(dāng)s沿奈氏路徑從-j0變化到+j0時(shí)，若G（s）H（s）的奈氏曲線以半徑為無(wú)窮大順時(shí)針轉(zhuǎn)過(guò)π弧度，則該系統(tǒng)的類(lèi)型為（）。
采用串聯(lián)滯后校正時(shí)，通?？墒剐Ｕ笙到y(tǒng)的增益剪切頻率ωc（）。
用根軌跡法設(shè)計(jì)系統(tǒng)的校正裝置，首先由給定的（）確定主導(dǎo)極點(diǎn)的位置：然后通過(guò)設(shè)置校正裝置的（）使根軌跡通過(guò)主導(dǎo)極點(diǎn)的預(yù)期位置；最后，計(jì)算預(yù)期位置處的根軌跡增益從而得到校正裝置（），通過(guò)增加（）滿(mǎn)足系統(tǒng)的靜態(tài)精度要求。
系統(tǒng)中引入相位超前校正裝置后，系統(tǒng)的（）。
前饋校正一般不單獨(dú)使用，總是和其他校正方式結(jié)合起來(lái)構(gòu)成（）控制系統(tǒng)，以滿(mǎn)足某些性能要求較高的系統(tǒng)的需要。
采用相位超前校正將使系統(tǒng)的增益剪切頻率（）。（選填增大或減?。?/p>
對(duì)于典型二階系統(tǒng)，當(dāng)系統(tǒng)為欠阻尼時(shí)，其階躍響應(yīng)呈現(xiàn)（）。
超前校正適用于改善系統(tǒng)的（），而滯后校正常用于改善系統(tǒng)的（）。如果系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)和穩(wěn)態(tài)特性均較差時(shí)，通常需采用（）。