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ICP-AES法測定時(shí)，（）法是實(shí)際應(yīng)用最廣泛的校正干擾的數(shù)學(xué)法，多數(shù)ICP光譜儀軟件中采用這種方法。

ICP光譜儀常用的檢測器有（）和（）兩種。

簡述等離子體發(fā)射光譜法的分析原理。

根據(jù)原子的特征發(fā)射光譜來研究物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和測定物質(zhì)的化學(xué)成分的方法稱為（）。

ICP進(jìn)樣裝置的性能對光譜儀的分析性能影響不大。

等離子發(fā)射光譜通常由化學(xué)火焰、電火花、電弧、激光和（）激發(fā)而獲得。

電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法（簡稱ICP-AES），是以電感耦合等離子炬為激發(fā)光源的一類光譜分析方法。

ICP光譜儀分光裝置的作用是把復(fù)合光按照不同波長展開而獲得光譜。

通入ICP炬管的（）起冷卻保護(hù)炬管的作用，（）用于輸送樣品，（）提供電離氣體（等離子體）。

ICP-AES法存在的主要干擾有（）、（）、（）、（）和（）。