A.復(fù)合界面始終存在界面回波
B.從復(fù)合層側(cè)檢測(cè)，如完全脫節(jié)，則無(wú)底波
C.從母材側(cè)檢測(cè)，工件中界面波低于試塊中界面波，工件中底波高于試塊中底波，則復(fù)合面為不完全脫節(jié)
D.底波與復(fù)合界面回波高度dB差實(shí)測(cè)值小于理論計(jì)算值，表示存在脫節(jié)
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A.應(yīng)針對(duì)具體產(chǎn)品，有明確的工藝參數(shù)和技術(shù)要求；
B.涵蓋本單位產(chǎn)品的檢測(cè)范圍
C.符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)、有關(guān)技術(shù)文件和JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)要求
D.應(yīng)有檢測(cè)記錄、報(bào)告、資料存檔和質(zhì)量等級(jí)分類(lèi)要求
A.對(duì)接接頭中的缺陷按性質(zhì)可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷
B.質(zhì)量等級(jí)是根據(jù)對(duì)接接頭中的缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集程度來(lái)劃分的
C.小徑管的圓形缺陷評(píng)定區(qū)為10mm×10mm，評(píng)定區(qū)大小與母材公稱(chēng)厚度無(wú)關(guān)
D.未焊透缺陷分級(jí)時(shí)，對(duì)斷續(xù)未焊透，以未焊透本身的長(zhǎng)度累計(jì)計(jì)算總長(zhǎng)度
A.底片評(píng)定范圍內(nèi)的黑度規(guī)定與檢測(cè)技術(shù)等級(jí)有關(guān)
B.用X射線或γ射線透照小徑管時(shí)，AB級(jí)最低黑度允許降至1.5
C.采用多膠片方法時(shí)，單片觀察的的黑度應(yīng)不低于1.3
D.若有計(jì)量報(bào)告證明觀片燈亮度滿足要求，可對(duì)D＞4.0底片進(jìn)行評(píng)定
A.放置在距焊縫5mm以內(nèi)的部位
B.所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊
C.所有標(biāo)記均應(yīng)放置在源側(cè)工件表面
D.不應(yīng)有干擾有效評(píng)定范圍的影像
A.圓形缺陷評(píng)定區(qū)為一個(gè)與焊縫平行的矩形
B.在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的條件下，各級(jí)別的圓形缺陷點(diǎn)數(shù)可放寬1～2點(diǎn)
C.當(dāng)對(duì)接焊接接頭存在深孔缺陷時(shí)，其質(zhì)量級(jí)別應(yīng)評(píng)為Ⅳ級(jí)
D.質(zhì)量等級(jí)為Ⅰ級(jí)和Ⅱ級(jí)對(duì)接焊接接頭，不計(jì)點(diǎn)數(shù)的缺陷在圓形缺陷評(píng)定區(qū)內(nèi)不得多于10個(gè)，超過(guò)時(shí)對(duì)接焊接接頭質(zhì)量等級(jí)應(yīng)降低一級(jí)
最新試題
影響較大的散射線通常來(lái)自（）
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
對(duì)軸類(lèi)鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）
在工作中超聲波檢測(cè)儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)（）等信號(hào)波，需要仔細(xì)判別。
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底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）