A.通過多個聲束角度的設(shè)定實現(xiàn)對復(fù)雜形狀工件的檢測
B.通過動態(tài)控制聲束偏轉(zhuǎn),可對工件全深度進行聚焦
C.要想獲得圓弧形波陣面,應(yīng)從左到右等間距激勵振元
D.可在不移動探頭的情況下進行扇面掃描,從而提高檢測效率
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你可能感興趣的試題
A.α射線是一束氦的原子核,帶正電
B.β射線是一束快速運動的電子,帶負電
C.γ射線是一種波長很短的電磁波,不帶電
D.α、β、γ三種射線均不帶電
A.焊接接頭種常見的缺陷是氣孔和冷裂紋
B.母材組織不均勻會導(dǎo)致噪聲較高
C.焊接接頭晶粒粗大影響檢測效果
D.應(yīng)使用CSK-ⅡA試塊調(diào)節(jié)靈敏度
A.按管子橫向缺陷的檢測方法進行檢測
B.利用大K值小晶片短前沿橫波斜探頭進行檢測
C.探頭K值根據(jù)需要確定,當(dāng)一次波掃查不到焊接接頭根部時,可利用三次波檢測
D.試塊的耦合面曲率應(yīng)與被探管徑相同
A.應(yīng)對位于定量線及定量線以上缺陷作出缺陷類型和性質(zhì)的判斷
B.原則上采用直射波檢測缺陷各參數(shù),掃查靈敏度可根據(jù)需要確定,但不得使噪聲回波高度超過滿屏的20%
C.只須對位于判廢線及以上的缺陷進行各項參數(shù)測得
D.只須對新產(chǎn)生的缺陷進行各項參數(shù)測定
A.掃查靈敏度不低于Φ2-12dB
B.當(dāng)板厚<40mm,采用單面雙側(cè),利用直射波和反射波檢測
C.斜探頭入射點可在CSK-ⅠA試塊上測試
D.掃描線比例可用CSK-ⅠA試塊測試
最新試題
在工作中超聲波檢測儀屏幕上可能會出現(xiàn)()等信號波,需要仔細判別。
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
一般認為表面波探測的有效深度約為()
射線照片上細節(jié)影像的可識別性主要決定于()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
影響較大的散射線通常來自()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
當(dāng)射線穿透任何一物體時,部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
使用變型波檢測的一個優(yōu)點是()