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目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

斜探頭中，楔塊的作用是使縱波斜入射到工件中，通過波型轉換產生橫波、表面波或板波。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

穿透法的最大優(yōu)點是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。