最新試題
與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。
多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。
測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。
目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。
縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。
